Fórum Internacional de Metrologia reúne especialistas, no Rio de Janeiro

O Sindicato Nacional dos Servidores de Metrologia, Normalização e Qualidade (Ametro-SN) realizou nesta sexta-feira (25/10), o Fórum Internacional de Metrologia Legal. O evento teve como objetivo a criação de um ambiente técnico de análise e discussão dos modelos de regulação (Metrologia Legal) de vários países, suas vantagens e pontos de fragilidade, considerando os aspectos legais específicos

O presidente do Asmetro, Sérgio Ballerini, abriu o Fórum falando sobre as definições e o processo das aplicações da metrologia, com estrutura legislativa e regulamentada, zelando por todo o
seu cumprimento. Ele destacou que o Fórum foi uma demanda dos próprios servidores do setor, que buscam informações atuais e novas formas de troca de conhecimento.
O fato de o diretor do Serviço de Metrologia Legal do Instituto Português da Qualidade, Cartaxo Reis, estar no Brasil, contribuiu para a decisão de fazer agora o evento. Cartaxo Reis é um dos mais reconhecidos especialistas no assunto, com participação na organização da União Europeia.

Análise de cenários
Cartaxo Reis apresentou a primeira palestra sobre “Modelo de Metrologia Legal na Europa”. O especialista analisou cenários a partir da década de 1950 até os dias atuais. Discorreu sobre aspectos relevantes como a legislação, o novo quadro atual legal europeu, pontos fortes, principais desafios a enfrentar, entre outros. No que se refere ao novo quadro legal europeu, falou sobre a Regulamentação CE 765, de 2008, do Parlamento e do Conselho Europeus, que estabelece regras claras sobre a organização e o funcionamento da acreditação.

“Acreditação é uma atividade pública, os organismos de acreditação não buscam lucro e respeitam os princípios de imparcialidade e objetividade; não existe senão um organismo de acreditação único; e não existe concorrência entre organismos de acreditação e de avaliação da conformidade”. O Parlamento e o Conselho garantem também um elevado grau de vigilância do mercado.

Reis analisou o novo quadro legal europeu (regulamento CE 764/2008), que se aplica ao princípio do reconhecimento mútuo a produtos não sujeitos à legislação comunitária. “Um Estado membro não pode proibir a comercialização no seu território de produtos legalmente comercializados noutro Estado membro, mesmo que esses produtos tenham sido fabricados de acordo com regras técnicas diferentes das que se aplicam aos produtos nacionais”, disse.

Ele apresentou, ainda, os “pontos fortes” do documento “European Cooperation in Legal Metrology”, tais como a harmonização da regulamentação metrológica aplicada pelos países europeus, a nova legislação que não constitui um fator limitado à inovação e à evolução tecnologia dos instrumentos de medição; e a eliminação progressiva das barreiras técnicas à livre circulação dos instrumentos de medição no mercado único europeu e consequente desenvolvimento deste mercado.

Entre os “pontos fortes”, informou, estão ainda: a correção e transparência do comercio nacional e europeu; o fato de que ele facilita o acesso das empresas nacionais a mercados mais vastos competitivos onde a qualidade e a inovação são fatores determinantes, reforçando a importância e credibilidade do campo voluntário, referindo-se à acreditação, certificação de produtos e empresas.

Entre os treze “pontos fortes” da metrologia legal europeia, Cartaxo Reis, mencionou ainda o fato de os fabricantes poderem escolher o procedimento de avaliação de conformidade que mais favorecem à empresa; e de terem igualmente a possibilidade de escolher o organismo notificado da sua preferência. Ele acrescentou outro ponto, como o “aproveitamento de capacidades metrológicas já existentes, que permite ao Estado evitar a duplicação de investimentos”.

O especialista finalizou apresentando os principais desafios a serem enfrentados na Europa, no âmbito da metrologia legal. Conforme listou, deverão assegurar a coordenação e harmonização da atividade dos organismos notificados, no caso de estatais e públicos privados; garantir a qualidade técnica dos organismos notificados em contexto de concorrência; e ainda reforçar a vigilância do mercado, através da fiscalização.

Outras palestras
Também pela manhã, o tema “Controle Metrológico no Brasil e nas Américas” foi apresentado por Cesar Luiz Leal Moreira da Silva, especialista em Metrologia Legal no Brasil. (LEIA)
À tarde, o diretor do Instituto de Pesos e Medidas (Ipem) em São Paulo, Antônio Lourenço Pancieri, palestrou sobre a “Rede Brasileira de Metrologia Legal e Qualidade (RBMLQ).
Em seguida, a diretora da REMESP, gerente de Metrologia e Qualidade (Metter/Toledo), Daniela Soares, apresentou o tema “A importância da Metrologia Legal na visão do setor produtivo”.